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SN74BCT8373ADWR
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SN74BCT8373ADWR技术资料
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SN74BCT8373ADWR
专用逻辑芯片
制造厂商：
德州仪器(TI)
功能简述：
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
原厂封装：
24-SOIC
优势价格，SN74BCT8373ADWR的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
SN74BCT8373ADWR的技术资料下载
SN74BCT8373ADWR的功能参数资料 - 德州仪器(TI)提供
TI公司标准型号：SN74BCT8373ADWR
制造厂家名称：Texas Instruments
描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
系列：74BCT
逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器
电源电压：4.5 V ~ 5.5 V
位数：8
工作温度：0°C ~ 70°C
安装类型：表面贴装
封装样式：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
原厂封装：24-SOIC
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